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JL系列回路電阻測(cè)試儀又稱(chēng)接觸電阻測(cè)試儀還稱(chēng)大電流微歐計(jì)。主要用于斷路器接觸電阻與截流導(dǎo)體電阻的高精度測(cè)量，能長(zhǎng)時(shí)間穩(wěn)定輸出電流，符合DL\T845.4-2004《電阻測(cè)量裝置通用技術(shù)條件，第四部分：回路電阻測(cè)試儀》的相關(guān)規(guī)定。

PY2007-200A回路電阻測(cè)試儀采用*大功率開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和*電子線(xiàn)路精制而成。是高、低開(kāi)關(guān)、電纜電線(xiàn)及焊縫接觸電阻的測(cè)試儀器。

SBHL-200A回路電阻測(cè)試儀是根據(jù)中華人民共和國(guó)電力執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)DL/T845.4-2004，采用高頻開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)而成。它適用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備回路電阻的測(cè)量。其測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)推薦的直流100A和200A。

SRHGL-100A便攜式回路電阻測(cè)試儀采用100A/200A恒流輸出。Z高輸出電壓達(dá)10V（常規(guī)儀器的2-3倍）可采用載面細(xì)的測(cè)試線(xiàn)，大大減輕了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。測(cè)試過(guò)程全部由單片控制自動(dòng)實(shí)施，精度高，復(fù)測(cè)性好，單按鍵操作，簡(jiǎn)單易行，測(cè)試數(shù)據(jù)液晶顯示。適用于不同的工作環(huán)境。

SRHGL-100A回路電阻測(cè)試儀采用100A/200A恒流輸出。Z高輸出電壓達(dá)10V（常規(guī)儀器的2-3倍）可采用載面細(xì)的測(cè)試線(xiàn)，大大減輕了現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試人員的勞動(dòng)強(qiáng)度。測(cè)試過(guò)程全部由單片控制自動(dòng)實(shí)施，精度高，復(fù)測(cè)性好，單按鍵操作，簡(jiǎn)單易行，測(cè)試數(shù)據(jù)液晶顯示。適用于不同的工作環(huán)境。

HD3100A回路電阻測(cè)試儀是根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)家有關(guān)規(guī)定，發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢(shì)，精心研制的高精度、數(shù)字化開(kāi)關(guān)檢測(cè)儀器。該儀器采用正弦波逆變器、大功率恒流開(kāi)關(guān)電源技術(shù)，可測(cè)得微歐姆級(jí)接觸電阻。廣泛適用于各種開(kāi)關(guān)及電器的接觸電阻、回路電阻及電纜電線(xiàn)、焊縫接觸電阻的測(cè)量。

BC-6100/6200回路電阻測(cè)試儀測(cè)試電流大，*符合有關(guān)測(cè)試接觸電阻的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求。輸出電壓高，測(cè)量量程寬。測(cè)試電流來(lái)自高精度的大電流恒流電源，無(wú)需人工調(diào)節(jié)，測(cè)試迅速準(zhǔn)確。

HD-200A回路電阻測(cè)試儀是公司根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)家有關(guān)規(guī)定，發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢(shì)，精心研制的高精度、數(shù)字化開(kāi)關(guān)檢測(cè)儀器。該儀器采用正弦波逆變器、大功率恒流開(kāi)關(guān)電源技術(shù)，可測(cè)得微歐姆級(jí)接觸電阻。廣泛適用于各種開(kāi)關(guān)及電器的接觸電阻、回路電阻及電纜電線(xiàn)、焊縫接觸電阻的測(cè)量。

SDY817J3 200A回路電阻測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱(chēng)開(kāi)關(guān)）導(dǎo)電回路的導(dǎo)電性能的好壞，對(duì)保障開(kāi)關(guān)的安全運(yùn)行具有重要作用。導(dǎo)電性能的優(yōu)劣可以通過(guò)導(dǎo)電回路電阻的大小反映出來(lái)。因此IEC標(biāo)準(zhǔn)及制造廠都規(guī)定應(yīng)測(cè)量回路電阻，并且對(duì)各種形式的開(kāi)關(guān)的回路電阻有明確規(guī)定指標(biāo)。

GS1770B高精度回路電阻測(cè)試儀在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受到油膜和動(dòng)靜觸頭間氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，掩蓋了真實(shí) 的接觸電阻值。